• 仪器介绍

拉曼光谱技术是材料研究领域中一项重要的实验手段。拉曼光谱可以快速无损的表征材料晶体结构和电子-声子耦合等物理性质。本设备主要部分为普林斯顿仪器TriVista三级光栅光谱仪，三级焦长分别为：750mm，750mm,750mm;总焦长：2250mm。Stage 3配置液氮制冷型背照式深耗尽Si CCD，配合高质量光源与显微光路可实现亚微米空间分辨率和~0.13 cm^-1 (加模式)能量分辨率。根据使用需求，系统可搭配闭循环低温制冷系统，进行变温拉曼光谱测量。可用于金属、半导体、绝缘体等多种二维或者薄膜材料的结构表征研究。

• 性能指标

孔径比：F/9.7

焦长：2250 mm (加模式) 750 mm (减模式)

线性色散：26 cm^-1/mm (加模式) 8.5 cm^-1/mm (减模式)

光谱分辨率：0.13 cm^-1 (加模式) 0.4 cm^-1 (减模式)，减模式下低波数至5cm^-1

CCD规格：背照式深耗尽Si，QE>80%@400-800nm

变温范围：1.7~300 K

• 典型应用

用于快速无损表征金属、半导体、绝缘体等二维或者薄膜材料的晶体结构和电子-声子耦合等物理性质。

• 样品要求

样品表面平整，厚度不超过1mm直径，边长不超过10 mm；不含粉末

• 预约联系

电话：18754677655；邮箱：maplewang@sjtu.edu.cn